廣西AB 1746-IB8 超低價(jià)
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用萬能表檢測(cè)電路板
1.離線檢測(cè)
測(cè)出IC芯片各引腳對(duì)地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片
進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn).
2.在線檢測(cè)
1)直流電阻的檢測(cè)法
同離線檢測(cè).但要注意:
(a)要斷開待測(cè)電路板上的電源;
(b)萬能表內(nèi)部電壓不得大于6V;
(c)測(cè)量時(shí),要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等.
2)直流工作電壓的測(cè)量法
測(cè)得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意：
(a)萬能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為首選;
(b)各電位器旋到中間位置;
(c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上,
并應(yīng)長(zhǎng)出筆尖約5mm;
(d)當(dāng)測(cè)量值與正常值不相符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對(duì)IC芯片正
常值有無影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析;
(e)IC芯片引腳電壓會(huì)受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路,
開路或變質(zhì)等;
(f)IC芯片部分引腳異常時(shí),則從偏離大的入手.先查外圍元器件,
若無故障,則IC芯片損壞;
(g)對(duì)工作時(shí)有動(dòng)態(tài)信號(hào)的電路板,有無信號(hào)IC芯片引腳電壓是不
同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞;
(h)對(duì)多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時(shí)IC腳的電壓是不同
的.
3)交流工作電壓測(cè)試法
用帶有dB檔的萬能表,對(duì)IC進(jìn)行交流電壓近似值的測(cè)量.若沒有dB
檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用
于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號(hào)將受固有頻率,波形不
同而不同.所以所測(cè)數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考.
4)總電流測(cè)量法
通過測(cè)IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直
流耦合,IC損壞時(shí)(如PN結(jié)擊穿或開路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止,使
總電流發(fā)生變化.所以測(cè)總電流可判斷IC的好壞.在線測(cè)得回路電
阻上的電壓,即可算出電流值來.
以上檢測(cè)方法,各有利弊.在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來運(yùn)用.運(yùn)用好了
就能維修好各種電路板。
用萬能表檢測(cè)電路板
1.離線檢測(cè)
測(cè)出IC芯片各引腳對(duì)地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片
進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn).
2.在線檢測(cè)
1)直流電阻的檢測(cè)法
同離線檢測(cè).但要注意:
(a)要斷開待測(cè)電路板上的電源;
(b)萬能表內(nèi)部電壓不得大于6V;
(c)測(cè)量時(shí),要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等.
2)直流工作電壓的測(cè)量法
測(cè)得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意：
(a)萬能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為首選;
(b)各電位器旋到中間位置;
(c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上,
并應(yīng)長(zhǎng)出筆尖約5mm;
(d)當(dāng)測(cè)量值與正常值不相符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對(duì)IC芯片正
常值有無影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析;
(e)IC芯片引腳電壓會(huì)受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路,
開路或變質(zhì)等;
(f)IC芯片部分引腳異常時(shí),則從偏離大的入手.先查外圍元器件,
若無故障,則IC芯片損壞;
(g)對(duì)工作時(shí)有動(dòng)態(tài)信號(hào)的電路板,有無信號(hào)IC芯片引腳電壓是不
同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞;
(h)對(duì)多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時(shí)IC腳的電壓是不同
的.
3)交流工作電壓測(cè)試法
用帶有dB檔的萬能表,對(duì)IC進(jìn)行交流電壓近似值的測(cè)量.若沒有dB
檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用
于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號(hào)將受固有頻率,波形不
同而不同.所以所測(cè)數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考.
4)總電流測(cè)量法
通過測(cè)IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直
流耦合,IC損壞時(shí)(如PN結(jié)擊穿或開路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止,使
總電流發(fā)生變化.所以測(cè)總電流可判斷IC的好壞.在線測(cè)得回路電
阻上的電壓,即可算出電流值來.
以上檢測(cè)方法,各有利弊.在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來運(yùn)用.運(yùn)用好了
就能維修好各種電路板。
廣西AB 1746-IB8 超低價(jià)
1746-NT8
1746-OA16
1746-OA8
1746-OB16
1746-OB16E
1746-OB32
1746-OB32E
1746-OB8
1746-OBP8
1746-OV16
1746-OV32
1746-OW16
1746-OW8
1746-OX8
1746-P1
1746-P2
1746-P3
1746-P4
1747-AENTR
1747-AIC
1747-BA
1747-C10
1747-C11
1747-C13
1747-C20
廣西AB 1746-IB8 超低價(jià)
1747-L511
1747-L514
1747-L524
1747-L531
1747-L532
1747-L533
1747-L541
1747-L542
第五屆“A-B杯”全國(guó)大學(xué)生自動(dòng)化系統(tǒng)應(yīng)用大賽決賽在上海交通大學(xué)落下順利帷幕。憑借扎實(shí)的專業(yè)知識(shí)、突出的動(dòng)手操作能力以及創(chuàng)新的自動(dòng)化解決方案，來自9所大學(xué)的10個(gè)代表隊(duì)最終贏得了決賽特等獎(jiǎng)，分別是：上海交通大學(xué)、北京航空航天大學(xué)、北京理工大學(xué)、華北電力大學(xué)、華東理工大學(xué)、江蘇大學(xué)、重慶大學(xué)、沈陽(yáng)建筑大學(xué)和金陵科技學(xué)院。
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