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廈門航拓電氣有限公司
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開發(fā)這些基于設(shè)計(jì)功能性的測試向量的時間隨設(shè)計(jì)尺寸和復(fù)雜性的增加而增加。必須理解設(shè)計(jì)單元（部件）間的相互作用。當(dāng)部件不嵌入設(shè)計(jì)時，這是一件非常簡單的任務(wù)。創(chuàng)建同樣的向量并提供觀測預(yù)期結(jié)果的方法對嵌入式部件而言是困難的。
故障模擬須花費(fèi)大量時間，而且復(fù)雜性與設(shè)計(jì)尺寸的平方成正比增長。必須有幾個大型、強(qiáng)大的工作站。為了減少所需的大量時間，通常將故障模擬分解到幾個機(jī)器上。許多公司需要超過一個月來完成故障模擬。

測試接入結(jié)構(gòu)
因?yàn)閯?chuàng)建測試嵌入式部件的功能向量比較困難，所以分析怎樣應(yīng)用DFT方法就變得相當(dāng)重要了?？捎玫幕痉椒ㄓ袃蓚€。為了在測試嵌入式部件時不依賴周圍設(shè)計(jì)部件，可以使用直接接入法。這種方法比其它方法的自動化程度低，盡管一些從事通用核心測試復(fù)用問題的公司可提供一些自動操作。
也可以使用傳統(tǒng)的DFT方法或這些演變出的新方法。通常這些方法包括掃描DFT或內(nèi)建自測試（BIST）方法。

直接接入
理論上說，測試一個設(shè)計(jì)中任何嵌入式器件的最簡單方法就是直接接入。這種技術(shù)允許測試和測試向量的復(fù)用。如圖l所示，為每一個模塊的端口提供一條芯片引腳與模塊端口間的通路。一種獨(dú)特的測試模式可應(yīng)用于需測試的每一個或每一組部件。
對于單向端口（輸入或輸出），一般可以使用多路轉(zhuǎn)接器結(jié)構(gòu)提供直接通路。雙向引腳需要特殊考慮。必須確保在部件端口和芯片引腳的驅(qū)動方向之間沒有沖突。復(fù)用部件的向量也需要對雙向信號進(jìn)行額外的考慮。
一塊IC的測試費(fèi)用與它的測試時間是成比例的。如果一個設(shè)計(jì)包含許多嵌入式部件，而且每一個部件依次進(jìn)行測試，測試時間就會增加。作為提供直接接入設(shè)計(jì)努力的一部分，必須考慮怎樣將測試時間減至最小。必須確定哪一個部件可以并行測試。這需要設(shè)計(jì)者分析設(shè)計(jì)以確定有相似測試時間的部件。
設(shè)計(jì)的復(fù)雜性比芯片信號引腳的數(shù)量增加得更快。通常，在部件上一種特定類型端口的數(shù)量超過為芯片提供的端口數(shù)?？梢酝ㄟ^改單方向芯片引腳為雙方向芯片引腳來解決引腳類型的問題。如果部件上端口數(shù)超過芯片引腳數(shù)，必須能應(yīng)用測試模式的一個子集或使用不同的DRT方法。值得注意的是，許多使用知識產(chǎn)權(quán)（IP）的設(shè)計(jì)小組已經(jīng)開始使用這種方法設(shè)計(jì)了。

掃描DFT相接口
90年代末，掃描DFT方法變得愈加流行。它用產(chǎn)生可預(yù)測結(jié)果的方法解決了測試的復(fù)雜性，而且易于自動操作。A20B-1001-0470
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