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產(chǎn)品簡介
梅特勒-托利多XP2U/XP6/XS3DU（超）微量天平在處理昂貴、易分解或者有毒物質(zhì)時(shí)，盡可能減少樣品使用量意味著可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平特別適用于將微量樣品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免樣品轉(zhuǎn)移過程中的誤差和浪費(fèi)。
詳細(xì)介紹
XS Microbalances
XS 微量天平
具有一流可讀性的雙量程技術(shù)。
1 μg 可讀性，1 μg 重復(fù)性，最大秤量為 800 mg
小于 0.8ug 的重復(fù)性對于獲得更優(yōu)稱量可靠性來說至關(guān)重要的。 XS 微量天平可減少不必要的重復(fù)測試以及對昂貴樣品的浪費(fèi)，同時(shí)可保證在稱量最小的微量樣品時(shí)也具有準(zhǔn)確的稱量結(jié)果。
可再現(xiàn)的結(jié)果
易于操作
具有可定制化的 XS 觸摸終端可確保操作更加簡單、直觀及無差錯(cuò)。
易于操作
用戶指導(dǎo)過程管理
梅特勒-托利多的 LabX® 實(shí)驗(yàn)室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和報(bào)告，具有 LabX 軟件的天平可以輕松實(shí)現(xiàn)過程安全性和可追溯性要求，并支持您實(shí)現(xiàn)無紙化實(shí)驗(yàn)室。
用戶指導(dǎo)過程管理
擴(kuò)展更加智能
每個(gè) XS 微量天平可以根據(jù)應(yīng)用要求進(jìn)行優(yōu)化。 即使在惡劣的稱量條件下，U 型去靜電裝置電極等配件依然可確保您稱量結(jié)果的準(zhǔn)確性與再現(xiàn)性。
擴(kuò)展更加智能
產(chǎn)品和規(guī)格
XS 微量天平
XS3DU
分辨率 10 μg;1 μg
可讀性 10 μg;1 μg
合法交易 No
尺寸 (高x寬) 113 mm x 128 mm
最大秤量 3.1 g/800 mg
最小稱量值 (USP)，典型值 1 mg
校正 內(nèi)部/ FACT
秤盤直徑 27 mm
穩(wěn)定時(shí)間 6 s
線性誤差（典型值）± 4 μg
重復(fù)性（典型） 0.5 μg
重復(fù)性（校驗(yàn)砝碼） 5 μg (0.2 g)

梅特勒微量天平價(jià)格

http://www.chem17.com/st303830/erlist_1101401.html 
http://www.chem17.com/st303830/product_19762115.html