| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 其他 | 型號(hào) | LUMETRICS |
天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國LUMETRICS波前傳感器
品牌介紹：
LUMETRICS總部位于紐約，自2003年以來，一直在為越來越多的客戶開發(fā)和制造高精度的厚度測量和計(jì)量系統(tǒng)，包括醫(yī)療，制藥，食品包裝等行業(yè)。我們的原始產(chǎn)品線OptiGauge是通過獲得Eastman Kodak的薄膜測量技術(shù)許可而推出的。從那以后，我們擴(kuò)展了OptiGauge系列并開發(fā)了其他產(chǎn)品線，以滿足更加多樣化的行業(yè)需求。
產(chǎn)品范圍：
美國LUMETRICS波前傳感器、精密像差儀
主要型號(hào)：
OPTIGAUGE 2000、OPTIGAUGE 600、OPTIGAUGE MLS、OPTIGAUGE EMS、LUMETRISCAN 360、CLAS-NX、CLAS-FX、CLAS-2D
相關(guān)產(chǎn)品介紹：
OPTIGAUGE 2000儀器基于時(shí)域低相干干涉測量法。這項(xiàng)技術(shù)可以對(duì)任何對(duì)光測量透明或部分透明的材料進(jìn)行絕對(duì)厚度測量。使用中心波長約為2微米的紅外光。設(shè)計(jì)用于測量特殊和稀有材料。常規(guī)的玻璃和塑料材料也可以測量。我們的技術(shù)可實(shí)現(xiàn)快速的實(shí)時(shí)測量，可用于在線過程控制以及離線質(zhì)量控制。
主要特點(diǎn)：
-測量范圍：100ΜM-16MM
-精度±1.0ΜM
-單層和多層測量
-連續(xù)內(nèi)部校準(zhǔn)
-NIST可追溯性
-臺(tái)式或機(jī)架安裝
CLAS-2D波前傳感器將干涉儀，光束輪廓儀和光束質(zhì)量儀的功能整合在一臺(tái)儀器中，以提供準(zhǔn)確的波前測量和激光輪廓分析。
該系統(tǒng)軟件是業(yè)內(nèi)靈活軟件，可以分析光學(xué)像差，包括像散，球差，聚焦誤差/準(zhǔn)直，傾斜等。此外，CLAS-2D還測量M2光束質(zhì)量，MTF，近場和遠(yuǎn)場光束發(fā)散度以及其他光束參數(shù)。
主要特點(diǎn)：
-激光束診斷
-光學(xué)測試
-對(duì)準(zhǔn)
-角度測量
-準(zhǔn)直
-表面測量
CRYSTALWAVE人工晶狀體精密像差儀是一種高度靈敏的光學(xué)儀器，專門設(shè)計(jì)用于使用10,000個(gè)小透鏡的柵格來測量人工晶狀體。它使您可以通過使用或不使用可選模型眼的WAVEFRONT測量來計(jì)算MTF。CRYSTALWAVE 765還包括可用于視覺檢查的攝像機(jī)。與我們的CLAS-2D服務(wù)器軟件兼容，您還可以使用LABVIEW，VISUAL BASIC或其他語言編寫CRYSTALWAVE 765的應(yīng)用程序，以直接控制生產(chǎn)線環(huán)境中的儀器。
主要特點(diǎn)：
-測量范圍包括球面度數(shù)，圓柱度，軸，彗差，三葉形和其他高階像差
-通過軟件口罩測量多焦點(diǎn)人工晶狀體
-使用綠色光源進(jìn)行的測量符合ISO 11979
